LC183ML640/557680-06海德漢HEIDENHAIN測(cè)量原理 測(cè)量基準(zhǔn) 海德漢光學(xué)掃描的直線光柵尺或編碼器的測(cè)量基準(zhǔn)都是周期刻線-光柵。 這些光柵刻在玻璃或鋼材基體上。對(duì)于大長(zhǎng)度的光柵尺,用鋼帶作為光柵尺基體。 海德漢公司用以下特別開(kāi)發(fā)的光刻工藝制造精密光柵。 • AURODUR:在鍍金鋼尺帶上蝕刻?hào)啪€;典型柵距:40 µm • METALLUR:抗污染的鍍金層金屬柵線;典型柵距:20 μm • DIADUR:玻璃基體上超硬鉻線(典型柵距:20 μm)或玻璃基體上三維鉻線格柵(典型柵距:8 μm) • SUPRADUR相位光柵:光學(xué)三維平面格柵;*抗污能力;典型柵距:不超過(guò)8 μm • OPTODUR相位光柵:光學(xué)三維平面格柵,超高反光性能;典型柵距:不超過(guò)2 μm 除極小柵距外,由該工藝刻制的光柵擁有優(yōu)異的邊緣清晰度和均勻性。結(jié)合光電掃 描法,邊緣清晰的刻線是輸出高質(zhì)量信號(hào)的關(guān)鍵。母版光柵采用海德漢公司定制的精密刻線機(jī)制造。 測(cè)量法 式測(cè)量是指光柵尺或編碼器在通電時(shí)立即提供位置值并隨時(shí)供后續(xù)電子電路讀取。無(wú)需移動(dòng)軸執(zhí)行參考點(diǎn)回零操作。位置信息由一系列碼編排的光柵讀取。單獨(dú)的增量刻軌信號(hào)通過(guò)細(xì)分生成位置值,同時(shí)用于生成可選的增量信號(hào)。 |